‌半导体行业国家标准列表

GB/T 1550非本征半导体材料导电类型测试方法

GB/T 1551硅单晶电阻率测定方法

GB/T 1555半导体单晶晶向测定方法

GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序第1部分按接收质量限(AQI)检索的逐批检验抽样计划

GB/T 6616半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法

GB/T 6618硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 6619硅片弯曲度测试方法

GB/T 6620硅片翘曲度非接触式测试方法

GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法

GB/T 14140硅片直径测量方法

GB/T 14264半导体材料术语

GB/T 14844半导体材料牌号表示方法

GB/T 25076太阳能电池用硅单晶

GB/T 26068硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法

GB/T 30859太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

GB/T 30860太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

GB/T 30869太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法

YS/T 28 硅片包装